日本HIOKI日置LCR测试仪 IM3523 优势供应

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产品名称: 日本HIOKI日置LCR测试仪 IM3523 优势供应

产品型号: IM3523

产品展商: 日本HIOKI日置

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简单介绍

日本HIOKI日置LCR测试仪 IM3523 优势供应日本HIOKI日置LCR测试仪 IM3523 优势供应

日本HIOKI日置LCR测试仪 IM3523 优势供应 的详细介绍

应用于生产线和自动化测试领域的理想选择

● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间

本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637，不需要硬件控制器。

LCR测试仪IM3523测量方法：连续测量不同条件

在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时，使用1台告诉连续测量不同条件。

LCR测试仪IM3523测量方法：顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能

为了使用1台LCR测试仪测量多种产品，要求高效率的更改设置。

IM3523的面板保存功能更，*多保存60组测量条件，还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外，可以使用外部控制端口控制面板编号的读取，因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

可靠的产线检查：接触检查功能

检查4端子测量时样品间的接触**。

测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻，如果在所设置的阈值以上时则显示错误。

测量模式	LCR,连续测试
测量参数	Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程	100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程	Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(为高分辩率时的显示位数）只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率	40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
测量信号电平	正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
输出阻抗	正常模式：100Ω
显示	单色LCD
测量时间	2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能	比较器，分类测量(BIN功能)，面板读取/保存、存储功能
接口	EXT I/O(处理器)，USB通信(高速) 选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源	100～240V AC，50/60Hz，*大50VA
尺寸及重量	260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件	电源线×1，使用说明书×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

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