日本王子OSI细微异物测量装置（杂点测量装置）DIP-2000

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产品名称: 日本王子OSI细微异物测量装置（杂点测量装置）DIP-2000

产品型号: DIP-2000

产品展商: 日本OSI王子

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简单介绍

日本王子OSI细微异物测量装置（杂点测量装置）DIP-2000 细微异物测量装置，DIP-2000，测量到0.5μm的细微异物。专用viewer根据图像对比的数据，一边确认使用。oji-keisoku，陕西西安，四川成都，贵州贵阳，云南昆明，重庆日本王子OSI细微异物测量装置（杂点测量装置）DIP-2000

日本王子OSI细微异物测量装置（杂点测量装置）DIP-2000 的详细介绍

日本王子OSI细微异物测量装置（杂点测量装置）DIP-2000

细微异物测量装置，DIP-2000，测量到0.5μm的细微异物。

专用viewer根据图像对比的数据，一边确认使用

0.5μmまでの微細異物計測

オートフォーカス装置による鮮明な画像

ジョイスティック付き自動XYステージにより操作性向上

色付き粒子の測定も可能

粒径、面積、形状ほか51種類の測定項目

専用ビューアにより画像と対比しながらデータ確認が可能

画像処理部：

入力装置：

カラーCCDカメラ

1/3" 3CCD RGB

光学系：

金属顕微鏡	対物レンズ5倍、10倍、20倍（測定対象により変わります）
照明装置	ハロゲンランプ光源

X-Yステージ：

AF装置：

方式	映像信号
その他	全焦点画像生成機能（オプション）

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