日本TOKYO DYLEC东京乐彩纳米扫描流动粒度仪 SMPS3938E77

1μm以下のエアロゾルの粒径分布を判断するための基準として、TSIのSMPS^TMは広く使われています。
モデル3777 Nano Enhancerとモデル3086 Differential Mobility Analyzer（1nm-DMA）の追加により、SMPSの測定可能範囲は、*小1nmまで広がりました。

• 高分解能データ：64ch/decadeの分解能を有します(1～50nmの粒径分布で109chのチャンネル数)
• 柔軟な使用が可能なコンポーネントデザイン
• 幅広い計測粒径レンジ：計測可能レンジは1～50nm
• 3081A Long DMAの追加で1nmから1000nmまでの3decade分の測定可能
• 拡散ロスを*少まで抑えた*適なシステム
• 専用ソフトウェア Aerosol Instrument Manager(AIM)により操作可能
• 精密な粒子測定：多モード・様々なサンプルを測定可能