日本 ONOSOKKI小野静电容量式微小位移传感器 VE系列
特长 不受被测物的颜色，表面粗燥度，反射率以及环境光线的影响。 非接触测量，对被测物体没有影响。 传感器结构简单经久耐用，适用范围广。 测量对象为导体时，材质不同也不需要进行再校准处理即可测量 （金属以外硅，碳化复合物，水面等也可测量） 构成 ＊ VE系列静电容量式微小位移传感器可与VT-5200/5700系列非接触静电容量式位移计或CL-5610系列非接触静电容量式厚度计配套使用。测量对象与测量精度请参阅各产品的说明页面。 ＊ 使用VE系列传感器时，为了补偿配套仪器的个体偏差，传感器与配套仪器（位移计或厚度计）需要1对1进行校准匹配，要变更交换使用其他传感器时（包括同型号）也要进行再校准。 测量对象 测量对象如是导体即可测量，例如以下材质物品。 金属板 铁，铝，钢等。 硅片 与金属同样测量。 铜箔基板 可以测量蚀刻处理前的两面铜箔基板的厚度。 膏状物体 高温烧成处理前的电池极板等膏状物体。 碳化材料板 各种碳化材料板状物。 测量时的注意事项 耐热绝缘铝材 经阳极氧化处理的耐热绝缘铝板，表面为绝缘膜测量会发生不稳定现象。 表面涂装材料 表面使用绝缘物进行涂装处理的材料，测量结果含有误差。 圆形物体 VE系列传感器是以测量平面物为前提的传感器，测量曲面时会产生误差。 表面粗燥物 表面粗燥物的测量结果，比较使用接触式测量的结果要小一些。使VE系列传感器测量结果等同于将表面的凹凸进行了平均，如果表面非常粗燥，有可能不能测量。 多孔状物体 如果被测物为多孔状物体，根据孔分布率测量结果小于实际数据。 绝缘体的测量 测量对象为绝缘体时，CL-5610系列非接触静电容量式厚度计配套CL-0300绝缘体测量软件（选配），可高精度测量绝缘体（玻璃，蓝宝石，水晶，塑料，塑料膜等）的厚度。 简要规格 标准型 型号 VE-5010 VE-1020 VE-1520 VE-3020 VE-8020 测量范围（μm）※1 50 ～ 500 100 ～ 1000 150 ～ 1500 300 ～ 3000 800 ～ 8000 外形（mm）※2 φ6 φ8 φ10 φ20 φ40 电缆长度 1.5m（电缆一体型） 信号电缆VL-1520/1521 1.5m （另购） 温度系数 k1＝1.7×10-5、k2＝3.4×10-5 使用温度范围※3 0 ～ +80 ℃ φ10mm通用基柱配套型 型号 VE-2011 VE-5011 VE-1021 VE-3021 VE-8021 测量范围（μm）※1 20 ～ 200 50 ～ 500 100 ～ 1000 300 ～ 3000 800 ～ 8000 外形（mm）※2 φ3 φ6 φ8 φ20 φ40 电缆长度 信号电缆VL-1520/1521 1.5m （另购） 温度系数 k1＝1.7×10-5、k2＝3.4×10-5 使用温度范围※3 0 ～ +80 ℃ ※1 测量范围指传感器的测量面到被测物的*大间距。 ※2 被测物的被测面积必须大于传感器的测量面的面积。 ※3 使用温度范围指传感器可以测量使用的温度范围，不是确保传感器的直线性状态的温度范围。 确保传感器的直线性状态的温度范围＋23 ℃±2 ℃。VE系列的温度特性请参阅[ VE传感器温度特性 ]的说明 配套信号电缆（另购） ●VL-1520（两端直型接头，电缆长度1.5 ｍ） ●VL-1521（L型接头 - 直型接头，电缆长度1.5 ｍ） VE传感器温度特性 ΔＤ≒ −(K1×l + K2×D) Δt K1 ： 传感器壳体材料的线膨胀率（1.7×10-5） K2 ： 传感器电极材料的面膨胀率（3.4×10-5） Δt ：温度变化 D ：测量间距 ΔＤ ：测量值变化 ●为了提高性能，可能不经预告而变更外形及规格，请谅解。
特长
构成
测量对象
测量对象如是导体即可测量，例如以下材质物品。
测量时的注意事项
绝缘体的测量
简要规格
标准型
φ10mm通用基柱配套型
配套信号电缆（另购）
VE传感器温度特性
ΔＤ≒ −(K1×l + K2×D) Δt
●为了提高性能，可能不经预告而变更外形及规格，请谅解。
蓉公网安备 51012402000290号
