产品特点：
带有200x150mm的X-Y标准操作平台，可测量较大体积样品
在反射测量时，从两个方向呈45º照射，测定交叉点在两个光学轴上，使聚焦点更容易观察
用于对铅珊、电子部件、金属、建筑材料和精密设备的发光和反射密度(OD)的测量和控制，还可用于测量和控制印刷品和纸张等的反射密度(OD)和反射率
通过滤光片快速测量三原色而不需接触样品，并且得到每种颜色的值(包括镀金金属)
可以在Y范围内测量反射密度，修正密度计算
技术参数
测量项目
B(黑色模式)，Y(黄色模式/光泽)，Lab，∆Lab，∆E；L*a*b*，∆L*a*b*，∆E*，YI，W，WB；∆YI，∆W，∆WB；XYZ，Yxy
测量面积
Φ0.05mm，Φ0.1mm，Φ0.2mm，Φ0.5mm
照明/接收条件
45º- 0º方法，45º照明-垂直光接收
载样台
200mmx15mm (X: 120mm，Y: 90mm，Z: 50mm)
适合标准
JIS Z 8722, ASTM E 308
CCD相机
彩色CCD相机
外形尺寸
光学单元：360(宽)x360(深)x460(高)mm；测量单元：350(宽)x360(深)x110(高)mm
电 源
AC电源，90W
光 源
卤素灯，12V/4A
其 它
14"彩色显示器
选 择 件
色度管理软件(Windows兼容)和RS-232C连接电缆等等
蓉公网安备 51012402000290号
