四川成都重庆西安贵州云南供应美国TSI3086型DMA差分静电迁移分析仪
该3086型1nm-DMA差分静电迁移分析仪一般和TSI 3082型静电分级器 、 3777型纳米增强仪 以及凝聚粒子计数器 配套使用,且该分析仪工作流程已经被*优化,不但能够将散逸损失降至*低,而且能够提高1nm到50nm颗粒物的粒径测量的粒径 分辨率。
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