四川成都重庆西安贵州云南供应美国TSI3938型扫描电迁移率粒径谱仪

四川成都重庆西安贵州云南供应美国TSI3938型扫描电迁移率粒径谱仪

产品详情

TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪被广泛应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量标准。该系统同样被应用于对液体悬浮颗粒进行**的纳米颗粒粒径测量。美国国家标准与技术局（NIST）使用TSI差分静电迁移率分析仪（DMA）对60nm和100nm的标准参考粒径进行测量。SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪粒径测量是审慎的技术，在该技术方法中计数浓度会被直接测量而无需假设粒径分布的形状。该方法不依赖于粒子或液体的折射率且具有高度的**粒径测量精度和测量可重复性。TSI的3938型仪器是SMPS第三代产品，历经30年深受研究者信任。

特性和优点

• 高分辨率数据：高达167通道
• 1nm到1,000nm的极宽粒径范围
• 符合ISO 15900:2009标准
• 快速测量：<10s扫描
• 宽浓度范围，高达 10 7 颗粒/cm 3
• 给您*大灵活度的组件设计
• 触摸屏控制无需电脑操作
• 免工具安装易于设置，自动发现组件
• 审慎的颗粒测量：适合多模样品
• 不依赖于粒子和流体的光学性质
• 宽系统配置选项：可选水介质或丁醇介质凝聚粒子计数器；可选传统的或无辐射中和器  

应用

• 纳米技术研究和材料合成
• 大气研究和环境检测
• 燃烧和发动机排放研究
• 室内空气质量测量
• 成核/凝结研究
• 吸入毒理学研究    

包含组件

• 与您自选DMA差分静电迁移率分析仪配套的静电分级器
• 七款凝聚粒子计数器之一
• Aerosol Instrument Manager®气溶胶仪器管理软件  

用于数据采集的电脑须单独购买。

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