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日本NF 阻抗分析仪 ZA57630

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产品名称: 日本NF 阻抗分析仪 ZA57630
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产品展商: 日本NF
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简单介绍

日本NF 阻抗分析仪 ZA57630 日本NF 阻抗分析仪 ZA57630


日本NF 阻抗分析仪 ZA57630  的详细介绍

 阻抗分析仪

ZA57630

“True Value”
测量真正的特性。

ZA57630

▲ ZA57630

ce

 

从电子零件、半导体器件到材料的特性评价,应对多样的阻抗测量需求

 

 
基本精度
频率范围
阻抗范围
测量 AC 信号级别
 
DC 偏置
 
测量时间
测量参数
 
±0.08%
10 µHz~36 MHz
10 µΩ~100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
0.01 mVrms~3 Vrms
0.1 µArms~60 mArms
−5 V ~ +5 V/−40 V ~ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ~ +100 mA
0.5 ms/point
Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ, 
Q, V, I, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, FREQUENCY

 

快速测量  业界*快 0.5 ms/point

实现了业界*快的0.5ms/point。
缩短生产线的节拍时间,提高测量作业的效率。
此外,通过增加设定的测量时间,使测量结果平均化,减轻噪声的影响。可视需要选择*合适的测量时间。

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4种测量模式  应对广泛的DUT
IMPD-3T
   标准测量模式

本模式可以在广泛的频率范围内进行高精度测量。可使用测试线及测试夹具,应对各种形状的试样。

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IMPD-2T
   高频测量模式

本模式可以在 10MHz 以上的高频下进行稳定的测量。使用 N 型连接器进行 2 端子测量,即便配线长,也可以进行稳定的测量。

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IMPD-EXT
  外部扩展测量模式

本模式为外部连接放大器或分流电阻等物进行测量。
可以通过施加高压信号或检测微小电压 / 电流进行单独使用本仪器无法应对的测量。

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G-PH
   增益/相位测量模式

本模式可以测量滤波器、放大器等的传输特性。向被测电路施加扫描信号,高精度地测量其频率响应(增益、相位)。

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正面面板测量端子
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