特征
考查实际上给电子设备安装半导体元件时,半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。 半导体元件因受静电可能发生内部配线,绝缘膜的熔断,破坏等而导致产品特性裂化,误动作的现象。 对于此静电破坏试验,只需利用1 台弊司小型ESS-600X 更换探头就可简单实行人体带电型,机器带电型的试验。还有,可用选件中的精密型支架可对超细密间距元件做半自动的试验。 *适合用于进行LED,LCD, 光元件等电子部品的静电破坏耐性试验。 精密型支架
对应标准
规格
半导体器件静电放电模拟试验器 (ESS-6002/ESS-6008)
简易型探针台 <18-00075A>
半自动精密型探针台 <18-00076A>
由于半自动精密型探针台的*小分辨率为0.01mm,所以可以简单地对毫米间距和英寸间距等极小间距的半导体进行试验
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