成都西野供应日本日立HITACHI扫描电子显微镜FlexSEM 1000

• 紧凑型设计，分辨率为4 nm*1
• 通过高灵敏度二次电子探测器，背散射探测器，低真空探测器（UVD*2），实现低加速电压/低真空下高质量图像观察
• 操作简捷，即使新手也能拍出高质量的图片
• 新开发的导航功能「SEM MAP」，便于快速锁定视野
• 大窗口（30 mm2）SDD能谱系统，便于快速分析元素成分*2

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设置在桌面时，分离主机和电源箱

*2

选配

• 项目		内容
  分解能*3		4.0 nm @ 20 kV （SE：高真空模式） 15.0 nm @ 1 kV （SE：高真空模式） 5.0 nm @ 20 kV （BSE：低真空模式）
  加速电压		0.3 kV ～ 20 kV
  放大倍率		6× ～ 300,000× （底片倍率） 16× ～ 800,000× （显示倍率）
  低真空模式		真空范围：6 ～ 100 Pa
  电子枪		预对中钨灯丝
  样品台		3-轴自动马达台 X：0 ～ 40 mm, Y：0 ～ 50 mm, Z：5 ～ 15 mm R：360°, T：-15° ～ ＋90°
  大样品尺寸		直径80 mm
  大样品高度		40 mm
  尺寸		主机：450（W） x 640（D） x 670（H） mm 供电单元：450（W） x 640（D） x 450（H） mm
  探测器选配		高灵敏度低真空二次电子探测器（UVD） 能量分散型X线探测器（EDS）

  *3

  主机与供电单元组合使用

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  PC、桌子、机械泵、显示器需要本地采购