直型伪同轴落射照明,可实现高照度,高均匀性和紧凑的外壳
使用半反射镜可以在与相机轴正交的轴上进行照射和成像。 与IFVA相比,可以减小高度方向上的空间,并且可以节省空间。 由于可以通过镜面反射进行检查,因此对于检查表面上的细微划痕,进行打印以及检查字符非常有效。 它可用于广泛的应用,例如电路板图案检查和连接器引脚间距测量。
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