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日本LEIMAC雷马克红外线照明红外4系列

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产品名称: 日本LEIMAC雷马克红外线照明红外4系列
产品型号:
产品展商: 日本LEIMAC雷马克
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简单介绍

硅片等的渗透检查的理想选择。 作为波长为1100nm的红外光的特征,可以透射硅材料。 此外,它对应于CMOS摄像机的感光度范围,即使不是红外摄像机(例如昂贵的InGaAs摄像机),也可以进行透射检查。


日本LEIMAC雷马克红外线照明红外4系列  的详细介绍

红外线照明红外4系列

硅片等的渗透检查的理想选择。

作为波长为1100nm的红外光的特征,可以透射硅材料。
此外,它对应于CMOS摄像机的感光度范围,即使不是红外摄像机(例如昂贵的InGaAs摄像机),也可以进行透射检查。

还请考虑红外照明红外系列和长波长红外照明红外3系列

INFRARED2系列
模型 输入电流 照明类型 峰值波长
IHVE-21IR-1100 – – 同轴射灯 1100纳米

*请同时考虑红外照明红外系列和长波长红外照明红外3系列

什么是红外线?

介绍通过红外照明进行电路图案检查的示例。
红外照明的波长比可见光(可见光)长,人眼不可见。
与紫外光和可见光相比,红外光的散射率非常低,因此它具有很高的透射率并允许液体和墨水通过。
特别地,波长为1100nm的光具有穿过硅的性质。
另外,与卤素不同,波长范围受到限制,因此它不会影响光敏工作。

红外波长分布图

INFRARED4产品描述01

成像示例:观察硅晶片上的电路图案

即使在照射光的红外波长相同的情况下,特性也根据波长而变化。

硅晶片不透射短波长的光,但是它们开始透射1000 nm左右的红外波长,并且1100 nm以上的红外波长的透射率变得恒定。

因此,它在850 nm或940 nm的红外照明下几乎是不可见的,并且可用于从1100 nm或更高的红外照明进行透射检查。


工作样本

成像环境

相机:CMOS黑白相机

镜头:远心镜头x 1x

电路板:柔性印刷电路板

 

该板被固定在晶片上,并且被评估为在晶片上具有电路。

安装图

  

比较图片
□850nm在
波长为850nm的辐照光下,它不能穿过硅晶片并且看起来是黑色的。
□1100nm
波长为1100nm的照射光穿过硅晶片,可以识别出基板图案。
□1200nm
波长为1200nm的照射光穿过硅晶片,但由于它不在CMOS相机的感光度范围内,因此看起来是黑色的。
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