硅片等的渗透检查的理想选择。
作为波长为1100nm的红外光的特征,可以透射硅材料。 此外,它对应于CMOS摄像机的感光度范围,即使不是红外摄像机(例如昂贵的InGaAs摄像机),也可以进行透射检查。
还请考虑红外照明红外系列和长波长红外照明红外3系列。
*请同时考虑红外照明红外系列和长波长红外照明红外3系列。
介绍通过红外照明进行电路图案检查的示例。 红外照明的波长比可见光(可见光)长,人眼不可见。 与紫外光和可见光相比,红外光的散射率非常低,因此它具有很高的透射率并允许液体和墨水通过。 特别地,波长为1100nm的光具有穿过硅的性质。 另外,与卤素不同,波长范围受到限制,因此它不会影响光敏工作。
即使在照射光的红外波长相同的情况下,特性也根据波长而变化。
硅晶片不透射短波长的光,但是它们开始透射1000 nm左右的红外波长,并且1100 nm以上的红外波长的透射率变得恒定。
因此,它在850 nm或940 nm的红外照明下几乎是不可见的,并且可用于从1100 nm或更高的红外照明进行透射检查。
成像环境
相机:CMOS黑白相机
镜头:远心镜头x 1x
电路板:柔性印刷电路板
该板被固定在晶片上,并且被评估为在晶片上具有电路。
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